實 驗 室 介 紹

一、簡 介

      掃描穿隧顯微儀（Scanning Tunneling Miscroscopy；STM）是一種應用於「磊晶成長」、「表面原子動態」、「單原子/單分子操縱」、「奈米結構研究」 等領域威力相當強大的工具。在我們實驗室中，將掃描穿隧顯微儀的優勢應用於觀察金屬與半導體在奈米尺度下的原子或粒子行為。

二、實 驗 儀 器

三、實 驗 原 理

• 穿隧效應 （Quantum Tunneling theory）

• 侷域電子態密度（Local Density of tate；LDOS）：STM可以去探測表面結構的主要原因。

• STM取像方法一般分成三種：
  1.  定電流法（Constant-current mode）
  2.  定高度法（Constant-height mode）
  3.  穿隧電流影像能譜（Current imaging tunneling spectroscopy；CITS）

• 壓力對樣品表面與實驗結果的影響

• 利用歐傑電子能譜儀（AES）訊號來計算鋪覆薄膜的層數

四、實 驗 觀 測 到 的 圖 形